チップテスター【VMS3000】3ステージ
本装置は、LDチップ付きのリングを供給テーブルへセットし、測定テーブルへ搬送後、テスターによる計測で電気特性などを測定、ランクを取得し、配列テーブルへ配列するセミオートの測定装置です。
仕 様
★対象ワーク
①対象ワーク:LDチップ
②ピックアップエリア:φ100mm以下
③ワークサイズ:0.2~0.4mm(W) × 0.2~1mm(L) × 0.1mm(t)

*ワークサイズに関しまして上記のサイズは装置能力としてはありますが、検収ワークは別途指示していただき、サンプルワークをお借りした物に限ります。
*ワークの種類、サイズなどによりワーク搬送コレット及び突き上げユニットを交換する必要があります。

*ワークの仕様によっては上記仕様を満足できない事が発生します。

★供給・配列形態
2.1Sec/P(200ポイント測定時)

★配列テーブル並びに配列エリア
・供給形態
供給リングは下記1種類のリングを装置に装着します。

①供給リング寸法及びピックアップエリア
 供給リング寸法:GR-4 外径φ152mm×内径φ140mm×厚み6mm
 ピックアップエリア:φ100mm
②供給リング搭載数 :1個

・配列形態
①配列リング寸法
 配列リング寸法:GR-4 外径φ152mm×内径φ140mm×厚み6mm
②配列リング搭載数 :6個

★タクトタイム
8Sec/ワーク以下(搬送タクト)

★ワーク配列及び、精度
・配列エリア
 □60mm

・配列精度
 X、Y方向:±30μm以内
 θ方向:±5°以内